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首页 > 产品中心 > 测量/计量仪器 > TFX4000i--薄膜厚度测量设备
产品详情
TFX4000i--薄膜厚度测量设备
参考报价:
面议
品牌:
睿励科学
关注度:
39
样本:
暂无
型号:
TFX4000i--薄膜厚度测量设备
产地:
上海
信息完整度:
典型用户:
暂无
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高级会员 第
1
年
名 称:
睿励科学仪器(上海)有限公司
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产品分类
测量/计量仪器
光学缺陷检测设备——WSD系列
明场光学缺陷检测设备——BriteSD 300
TFX-R1———光学膜厚测量设备
TFX4000i--薄膜厚度测量设备
TFX3000P--薄膜厚度测量设备
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TFX4000OCD——光学关键尺寸量测
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产品简介
TFX4000i--薄膜厚度测量设备
可量测多种材料薄膜
提供薄膜可靠和精确的厚度、折射率、成分比率和应力测量输出产能高,具有较高的性价比
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